ОРЕЛ – комплекс для контроля изделий<br>микроэлектроники с использованием рентгеновского излучения
TSNK → Публикации → ОРЕЛ – комплекс для контроля изделий<br>микроэлектроники с использованием рентгеновского излучения
Предлагаем вашему вниманию статью «ОРЕЛ –
комплекс для контроля изделий микроэлектроники
с использованием рентгеновского излучения», опубликованную в журнале «Контроль и диагностика»
(№2, 2007 г.). В данной статье описан комплекс «ОРЕЛ» для контроля изделий микроэлектроники с помощью рентгеновского излучения. Приведены его основные характеристики, показаны примеры диагностики.
Показано, что основные типы дефектов могут быть выявлены с его помощью.
комплекс для контроля изделий микроэлектроники
с использованием рентгеновского излучения», опубликованную в журнале «Контроль и диагностика»
(№2, 2007 г.). В данной статье описан комплекс «ОРЕЛ» для контроля изделий микроэлектроники с помощью рентгеновского излучения. Приведены его основные характеристики, показаны примеры диагностики.
Показано, что основные типы дефектов могут быть выявлены с его помощью.
29.09.2016 14:42